LS伺服驅(qū)動(dòng)器上電無(wú)顯示故障經(jīng)典經(jīng)驗(yàn)：伺服驅(qū)動(dòng)器上電無(wú)顯示故障主要的原因是在電路，電壓或是電源的問(wèn)題上，對(duì)它們的測(cè)試以上電后檢測(cè)各引腳電壓為主,如果電路包含相同的部分,也可以通過(guò)對(duì)比電阻或電壓差異來(lái)判斷故障點(diǎn)。具體的操作檢測(cè)方法是先判斷芯片部分是做運(yùn)算放大器用還是做比較器用,如果是做運(yùn)算放大器,則如果到同相輸人端和反相輸入端電壓一致(偏差不超0.1V,因?yàn)槿f(wàn)用表的引入可能會(huì)引起誤差),就判斷此運(yùn)算放大器是好的,如果電壓不一致,再測(cè)試輸出電壓,看是否符合要求。
LS伺服驅(qū)動(dòng)器上電無(wú)顯示故障中檢測(cè)電壓的重要性：LS伺服驅(qū)動(dòng)器電壓監(jiān)測(cè)芯片的測(cè)試，判斷此類芯片好壞需要先了解處理器是高電平復(fù)位還是低電平復(fù)位。如果是高電平復(fù)位,則是系統(tǒng)通電后瞬間復(fù)位芯片復(fù)位腳輸出若干毫秒高電平,單片機(jī)運(yùn)行穩(wěn)定后就一直是低電平;相應(yīng)地如果是低電平復(fù)位,則復(fù)位芯片復(fù)位腳輸出若干毫秒低電平,單片機(jī)運(yùn)行穩(wěn)定后就一直是高電平，無(wú)論是高電平，低電平，這在電壓的處理上都要注意，如有某一項(xiàng)的不合格都是會(huì)導(dǎo)致機(jī)器出現(xiàn)無(wú)法啟動(dòng)或是上電無(wú)顯示故障。我們可以使用萬(wàn)用表或示波器或邏輯筆測(cè)試復(fù)位腳的電平來(lái)判斷,如果復(fù)位腳不符合以上邏輯,或者老是高低電平跳變,說(shuō)明復(fù)位有問(wèn)題,需要檢測(cè)電源是否正常或者復(fù)位芯片的電壓設(shè)置是否合適。
LS伺服驅(qū)動(dòng)器上電無(wú)顯示故障中元件的檢測(cè)：LS伺服驅(qū)動(dòng)器元器件測(cè)試詳解的特點(diǎn),即比較同相輸入電壓大于反相輸入電壓,則輸出電壓接近電源電壓***值,同相輸入電壓小于反相輸入電壓,則輸出電壓接近電源電壓***值。當(dāng)然,像LS伺服驅(qū)動(dòng)器之類的集電極開(kāi)路的比較器,輸出沒(méi)有上拉電阻,是測(cè)不出高電平的如果測(cè)試不符合以上規(guī)律,可能就是芯片損壞,可以拆下來(lái),使用集成電路測(cè)試儀單獨(dú)存儲(chǔ)器芯片的測(cè)試存儲(chǔ)器芯片包括易失性存儲(chǔ)器和非易失性存儲(chǔ)器,易失性存儲(chǔ)器掉電后程序就會(huì)丟失。所以如果LS伺服驅(qū)動(dòng)器電路板上有電池,那么***不要輕易拆裝電路板上的RAM。這些RAM或者存儲(chǔ)了日期時(shí)間數(shù)據(jù),或者存儲(chǔ)了用戶設(shè)置的參數(shù),除非你非常清楚能夠重新安裝或者輸入用戶機(jī)器的參數(shù)。部分編程器提供一些低容量的RAM的測(cè)試程序,但是大容量的SRAM芯片,目前市面上沒(méi)有合適的測(cè)試儀器,只能采用代換法來(lái)維修非易失性存儲(chǔ)器芯片是可以復(fù)制程序的,OTP-ROM、 EPROM,FLASH-ROMEEPROM和內(nèi)部帶電池的SRAM芯片,這些都是可以使用編程器復(fù)制程序的。如果懷疑損壞,可以找相同的電路板,從上面取下相同芯片,使用編程器讀取程序,然后將程序?qū)懭氲叫碌腖S伺服驅(qū)動(dòng)器芯片里面這樣可以將芯片的故障排除。